| 产品特性：光学检验 | 加工定制：是 | 品牌：CAMTEK |
| 型号：CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I | 用途：CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I | 订货号：CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I |
| 货号：CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I | 别名：CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I | 规格：CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I |
| 是否跨境货源：否 |
CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 Eagle-I
亚科电子的合作伙伴CAMTEK公司总部位于以色列，是一家致力于自动光学检验的设备商。CAMTEK主要的检测领域包括：Wafer、PCB、HDI。 Wafter 检测设备主要用于检测Bump, RDL, Pad, UBM, Via，化合物CD关键尺寸等。
产品介绍
1. Eagle-I
Eagle是大量产的2D检测设备，采用了CAMTEK进的检测系统。
| 大量产的2D检测适用于部分前道工艺： ? 电镀bump前后检测； ? 电测针印大小的检测； ? OQC检测； ? 划片后的检测等； 同时又适用于器件的检测： ? CMOS 图像传感器； ? MEMS特殊结构监测； ? LED良率监测等。 |
2. Eagle-AP(3D/2D)
Eagle是大量产的2D检测设备，采用了CAMTEK进的检测系统。
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? 检测小到2um的bump； ? 量测单片5000万点的bump； ? 量测bump尺寸和间距； ? RDL后的线宽线距； ? TSV填孔后的尺寸； ? 2D检测精度0.2um，3D检测高度精度0.05um（量测范围2~100um）。 |
1. EagleT-i
EagleT-i是AOI市场上2D检测速度最快的设备之一，其中囊括了CAMTEK进的机构、***的镜头、速的传输信道。
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? 基于CAD图层检测； ? 的图像锐化功能； ? 可以检测RDL后小到2um线宽； ? 兼容检测方片、翘曲片； ? 可以检测小到0.2um的表面缺陷； ? 多重放大倍数，提高检测能力。 |
