产品特性:SEM | 是否进口:否 | 产地:捷克 |
加工定制:是 | 品牌:TESCAN | 型号:TESCAN-S8000型***分辨场发射扫描电镜 |
订货号:TESCAN-S8000型***分辨场发射扫描电镜 | 货号:TESCAN-S8000型***分辨场发射扫描电镜 | 测量范围:TESCAN-S8000型***分辨场发射扫描电镜 |
测量精度:TESCAN-S8000型***分辨场发射扫描电镜 | 分辨率:1nm | 电源电压:220V |
用途:扫描电镜 | 是否跨境货源:否 |
S8000 系列(NEW ! )
追求ji致性能!完成具挑战性的纳米分析工作。
TESCAN推出了全新yi代S8000系列扫描电镜,目前包括:S8000型***分辨场发射扫描电镜和S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜。
S8000 FE-SEM
全新设计的S8000***分辨场发射扫描电镜可以提供***的图像质量,具有强大的扩展分析能力,能够满足现今工业研发和科研的所有需求,不仅适用于高端的纳米分析应用,也给操作者带来舒适、高效的使用体验。 S8000 FE-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,***了复杂样品的低电压高分辨观测能力 ***配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及
S8000G FIB-SEM
S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员,是yi款***分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供***的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点: 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,***了复杂样品的低电压高分辨观测能力 ***配置的静电-
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S8000 系列(NEW ! )
· S8000 FE-SEM
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S8000G FIB-SEM
S8000G是TESCAN***S8000系列扫描电镜的***个新成员,是一款***分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供***的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以***的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点: ***镜筒内电子加速、减速技术,***了复杂样品的低电压高分辨观测能力 ***配置的静电-
S8000 系列(NEW ! )S8000G FIB-SEM
S8000G是TESCAN***S8000系列扫描电镜的***个新成员,是一款***分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供***的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以***的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。
S8000G FIB-SEM的优点:
· ***镜筒内电子加速、减速技术,***了复杂样品的低电压高分辨观测能力
· ***配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析
· 配置4个***探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面
· 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境
· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并实现与TOF-SIMS、Raman联用
· ***操作软件和自动功能,FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中,***简化了操作
· 概述
*** Orage? Ga FIB镜筒,适用于各类具有挑战性的纳米加工任务
TESCAN S8000配置了***的BrightBeam?镜筒,实现了无磁场***分辨成像,可以化的实现各种分析,包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率,特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。创新的Orage? Ga FIB镜筒配有进的离子枪和离子光学镜筒,使得TESCAN S8000G成为了世界的样品制备和纳米图形成型的仪器。
S8000G束流可达100nA,具有超快速的加工能力,新颖的SmartMill高速切割功能,使得加工效率提升一倍。
S8000G离子能量***可达500eV,拥有更***的低压样品制备能力,可以快速制备无损超薄TEM样品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并实现与TOF-SIMS、Raman一体化。
***OptiGIS?气体注入系统
S8000可配置***的多种探测器,包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector,可选择不同角度和不同能量来收集信号,体现更多种类的信息,同时获得更好的表面灵敏度和对比度。S8000G有两种气体注入系统可供选择,标准的5针-GIS和***OptiGIS单针-GIS,单针的OptiGIS支持通过更换气罐来更换化学气体,避免了以往多针气体注入系统样品仓内占用空间大的问题。
两种气体注入系统均可以选择多种沉积气体,其中W、Pt、C等用于导电材料沉积,SiOx用于绝缘材料沉积,XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体。
***Essence?操作软件,更简单、高效的操作平台
S8000可配置***的多种探测器新操作软件***简化了用户界面,能快速访问各主要功能,减少了繁琐的下单菜单操作,并优化了操作流程向导,易于学习,兼容多用户需求,可根据工作需要定制操作界面。
新颖的样品舱内3D空间位置和移动轨迹模拟功能,可避免误操作,造成碰撞。
样品舱内的3D空间位置和移动轨迹模拟
集成多项创新性设计,拓展新应用领域的利器
S8000可配置***的多种探测器S8000G是TESCAN***FIB-SEM的***成员,集成了BrightBeam? SEM镜筒、Orage? GaFIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设计,在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展能力方面达到了业内水平,此外***操作流程和软件也给使用者带来更舒适、高效的体验。
S8000 系列(NEW ! )S8000 FE-SEM
全新设计的S8000***分辨场发射扫描电镜可以提供***的图像质量,具有强大的扩展分析能力,能够满足现今工业研发和科研的所有需求,不仅适用于高端的纳米分析应用,也给操作者带来舒适、高效的使用体验。
S8000 FE-SEM的优点:
· 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,***了复杂样品的低电压高分辨观测能力
· ***配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析
· 配置4个新yi代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面
· 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境
· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,如EDS、EBSD、CL、EBL,并du家实现与Raman联用
创新的电子光学镜筒,使电镜拥有更加******分辨率
TESCAN S8000配置了新的BrightBeam?镜筒,实现了无磁场***分辨成像,可以大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率,特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。
另外,EquiPower?透镜技术可有效减少能量损耗并***电子镜筒的稳定性。
BrightBeam?电子光学镜筒及探测器系统
(A)Axial detector (In-Beam)
(B)Multidetector (In-Beam)
(C)E-T detector (In-Chamber)
(D)Retractable BSE (In-Chamber)
配备新的多种探测器,更好的表面灵敏度和对比度
S8000可配置新的多种探测器,包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector,可选择不同角度和不同能量来收集信号,体现更多种类的信息,同时获得更好的表面灵敏度和对比度。
S8000 系列(NEW ! )S8000G FIB-SEM
S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员,是yi款***分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供***的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。
S8000G FIB-SEM的优点:
· 新yi代镜筒内电子加速、减速技术,***了复杂样品的低电压高分辨观测能力
· ***配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析
· 配置4个新yi代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面
· 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境
· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并du家实现与TOF-SIMS、Raman联用
· 新yi代操作软件和自动功能,FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中,ji大简化了操作
· 概述
新yi代 Orage? Ga FIB镜筒,适用于各类具有挑战性的纳米加工任务
TESCAN S8000配置了新的BrightBeam?镜筒,实现了无磁场***分辨成像,可以大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率,特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。创新的Orage? Ga FIB镜筒配有***的离子枪和离子光学镜筒,使得TESCAN S8000G成为了世界的样品制备和纳米图形成型的仪器。
S8000G束流可达100nA,具有超快速的加工能力,新颖的SmartMill高速切割功能,使得加工效率提升yi倍。
S8000G离子能量低可达500eV,拥有更***的低压样品制备能力,可以快速制备无损超薄TEM样品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并du家实现与TOF-SIMS、Ramanyi体化。
新yi代OptiGIS?气体注入系统
S8000可配置新的多种探测器,包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector,可选择不同角度和不同能量来收集信号,体现更多种类的信息,同时获得更好的表面灵敏度和对比度。S8000G有两种气体注入系统可供选择,标准的5针-GIS和新yi代OptiGIS单针-GIS,单针的OptiGIS支持通过更换气罐来更换化学气体,避免了以往多针气体注入系统样品仓内占用空间大的问题。
两种气体注入系统均可以选择多种沉积气体,其中W、Pt、C等用于导电材料沉积,SiOx用于绝缘材料沉积,XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体。
新yi代Essence?操作软件,更简单、高效的操作平台
S8000可配置新的多种探测器新操作软件ji大简化了用户界面,能快速访问各主要功能,减少了繁琐的下单菜单操作,并优化了操作流程向导,易于学习,兼容多用户需求,可根据工作需要定制操作界面。
新颖的样品舱内3D空间位置和移动轨迹模拟功能,可避免误操作,造成碰撞。
样品舱内的3D空间位置和移动轨迹模拟
集成多项创新性设计,拓展新应用领域的利器
S8000可配置新的多种探测器S8000G是TESCAN新yi代FIB-SEM的***成员,集成了BrightBeam? SEM镜筒、Orage? GaFIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设计,在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展能力方面达到了业内水平,此外新yi代操作流程和软件也给使用者带来更舒适、高效的体验。